科宇系統有限公司 Wet process monitor 濕製程濃度計,Probe station 探針台,Photomask inspection station 光罩檢查機,4 point probe system 四點探針機台,Hg CV system 汞探針,Probe heads 四點探針頭,Cathodoluminescence,3D surface profiler 科宇系統代理歐美半導體與光電產業的專業量測分析系統，包括微米、納米級物體表面的三維精密測量儀、濕製程濃度分析儀、光罩檢查機、探針台、CV / IV 量測系統、薄膜和片電阻的測量儀、以及太陽電池製程中的片電阻與漏電流量的量測等機台和周邊耗材。 * SubNano 鎮江超納儀器3D Optical microscope/Non-contact Surface profiler 微米/納米級物